ISO/TS 22933:2022
Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS). Метод измерения разрешения по массе в SIMS
Статус: Действует Дата введения в действие: 01.04.2022
Обозначение | ISO/TS 22933:2022 |
---|---|
Статус | Действует |
Вид стандарта | ST |
Заглавие на русском языке | Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS). Метод измерения разрешения по массе в SIMS |
Заглавие на английском языке | Surface chemical analysis Secondary ion mass spectrometry Method for the measurement of mass resolution in SIMS |
Код КС (ОКС, МКС) | 71.040.40 |
ТК – разработчик стандарта | TC 201/SC 6 |
Язык оригинала | английский |
Номер издания | 1 |
Дата опубликования | 01.04.2022 |
Количество страниц оригинала | 22 |
Код цены | C |
Примечание | Документ содержит цветные иллюстрации |