IEC 62788-1-4(2016)/Amd.1(2020)
Методы измерения свойств материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Часть 1-4. Материалы-заполнители. Измерение коэффициента оптического пропускания и расчет взвешенного коэффициента пропускания солнечного излучения, показателя пожелтения и критической длины волны УФ-излучения. Изменение 1
Статус: Действует Дата введения в действие: 15.10.2020
Обозначение | IEC 62788-1-4(2016)/Amd.1(2020) |
---|---|
Заглавие на русском языке | Методы измерения свойств материалов, используемых в фотоэлектрических модулях. Часть 1-4. Материалы-заполнители. Измерение коэффициента оптического пропускания и расчет взвешенного коэффициента пропускания солнечного излучения, показателя пожелтения и критической длины волны УФ-излучения. Изменение 1 |
Заглавие на английском языке | Measurement procedures for materials used in photovoltaic modules - Part 1-4: Encapsulants - Measurement of optical transmittance and calculation of the solar-weighted photon transmittance, yellowness index, and UV cut-off wavelength. Amendment 1 |
МКС | 27.160 |
Вид стандарта | ST |
Обозначение заменяемого в части | IEC 62788-1-4(2016) |
Дата опубликования | 15.10.2020 |
Язык оригинала | английский;французский |
Количество страниц оригинала | 13 |
ТК – разработчик стандарта | TC 82 |
Номер издания | 1.0 |
Статус | Действует |
Код цены | B |