панель навигации
  • Main
  • Contacts
  • Рус
  • 中文
FSBI «RST»


Version for visually impaired
панель навигации
About us
  • About us

    • News
    • History
    • Our Management
    • Representation
  • The main objectives

    • Registration, Official Publication and Distribution of Documents on Standardization
    • Maintenance of the Federal Information Collection of Standards
    • Coordination of Unified Information System on Technical Regulations
    • Cooperation with International, Regional and National Organizations for Standardization
    • Database «Products of Russia»
    Services
    • Technical regulation and standardization

      • Providing normative documents on technical regulation and standardization
      • Terminological expertise
      • Base documents national and inter-state systems of standardization
        Information centers
        • Information centers

          • The official Russian informational analytical web-site «Standardization in China»
          • WTO TBT/SPS Russian Information Center on Standardization, Certification and Overcoming Technical Barriers to Trade
          • WTO (TBT/SPS) ENQUIRY POINT
        Press Centre
        • Press Centre

          • Press Office
          • Useful Links
        Contacts
          1. Главная
          2. Каталоги стандартов, общероссийские классификаторы, терминологические словари

          IEC/TS 61945(2000)

          Схемы интегральные. Аттестация производственной линии. Методология технологического анализа и анализа отказов

          Статус: Действует   Дата введения в действие: 01.03.2000

          • Библиография

          Обозначение

          IEC/TS 61945(2000)

          Обозначение

          IEC/TS 61945(2000)

          Заглавие на русском языке

          Схемы интегральные. Аттестация производственной линии. Методология технологического анализа и анализа отказов

          Заглавие на русском языке

          Схемы интегральные. Аттестация производственной линии. Методология технологического анализа и анализа отказов

          Заглавие на английском языке

          Integrated circuits - Manufacturing line approval - Methodology for technology and failure analysis

          Заглавие на английском языке

          Integrated circuits - Manufacturing line approval - Methodology for technology and failure analysis

          МКС

          31.200

          МКС

          31.200

          Аннотация (область применения)

          В настоящем техническом описании изложена методология разработки технологии и анализа дефектов при производстве интегральных схем. Принимая во внимание уровень сложности используемых методов и средств, настоящая техническая спецификация охватывает классификацию нескольких уровней технологического анализа, которые могут быть использованы для полупроводников, и определяет для каждого уровня: – задача, которую необходимо выполнить (или цель); – моменты, требующие углублённого изучения; – инструменты и методы, необходимые для использования имеющихся в настоящее время технологий для достижения этих целей. Технологический анализ используется для определения способа сборки компонента путем наблюдения за ним с использованием соответствующего разрешения, которое постепенно увеличивается с повышением уровня анализа. Кроме того, он позволяет выявлять любые дефекты, потенциально влияющие на надежность устройств в обычных условиях эксплуатации. Он может быть использован для проверки соответствия устройства производственным документам, а также для определения физических и химических характеристик тестируемого устройства. Замечания, отмеченные в ходе анализа, также могут служить руководством для эксперта при проведении будущего аудита качества производственной линии. При использовании аналогичных или специфичных для конкретного случая методов анализ дефектов позволяет выявить физические причины дефекта, обнаруженного в устройстве во время тестирования или в нормальных условиях работы. Благодаря глубокому знанию компонента и его внутренних механизмов отказа, технологический анализ позволяет подготовиться к будущему анализу дефектов. Настоящая техническая спецификация считается подходящей методологией испытаний, если на нее делается ссылка в заявочном документе. В таких документах должны быть указаны конкретные условия ее применения.

          Аннотация (область применения)

          В настоящем техническом описании изложена методология разработки технологии и анализа дефектов при производстве интегральных схем. Принимая во внимание уровень сложности используемых методов и средств, настоящая техническая спецификация охватывает классификацию нескольких уровней технологического анализа, которые могут быть использованы для полупроводников, и определяет для каждого уровня: – задача, которую необходимо выполнить (или цель); – моменты, требующие углублённого изучения; – инструменты и методы, необходимые для использования имеющихся в настоящее время технологий для достижения этих целей. Технологический анализ используется для определения способа сборки компонента путем наблюдения за ним с использованием соответствующего разрешения, которое постепенно увеличивается с повышением уровня анализа. Кроме того, он позволяет выявлять любые дефекты, потенциально влияющие на надежность устройств в обычных условиях эксплуатации. Он может быть использован для проверки соответствия устройства производственным документам, а также для определения физических и химических характеристик тестируемого устройства. Замечания, отмеченные в ходе анализа, также могут служить руководством для эксперта при проведении будущего аудита качества производственной линии. При использовании аналогичных или специфичных для конкретного случая методов анализ дефектов позволяет выявить физические причины дефекта, обнаруженного в устройстве во время тестирования или в нормальных условиях работы. Благодаря глубокому знанию компонента и его внутренних механизмов отказа, технологический анализ позволяет подготовиться к будущему анализу дефектов. Настоящая техническая спецификация считается подходящей методологией испытаний, если на нее делается ссылка в заявочном документе. В таких документах должны быть указаны конкретные условия ее применения.

          Ключевые слова

          микросхемы интегральные

          Ключевые слова

          микросхемы интегральные

          Вид стандарта

          ST

          Вид стандарта

          ST

          Дата опубликования

          01.03.2000

          Дата опубликования

          01.03.2000

          Язык оригинала

          английский;французский

          Язык оригинала

          английский;французский

          Количество страниц оригинала

          26

          Количество страниц оригинала

          26

          Количество страниц перевода

          14

          Количество страниц перевода

          14

          ТК – разработчик стандарта

          SC 47A

          ТК – разработчик стандарта

          SC 47A

          Номер издания

          1.0

          Номер издания

          1.0

          Статус

          Действует

          Статус

          Действует

          Код цены

          C

          Код цены

          C



          Вернуться в Каталог МЭК — публикации Международной электротехнической комиссии - IEC
          • Каталоги стандартов, общероссийские классификаторы, терминологические словари
            • Каталог "ГОСТ"
            • Каталог "Правила, Рекомендации"
            • Каталог "Своды Правил"
            • Каталог документов международных организаций по стандартизации "ИСО"
            • Каталог документов международной электротехнической комиссии "МЭК"
            • Каталог "DIN"
            • Каталог "Bеликобритания"
            • Каталог "Франция"
            • Каталог "Япония"
            • Каталог "Австрия"
            • Общероссийские классификаторы
            • Терминологические словари
          нижний колонтитул
          Росстандарт
          • vk

           

          support-web@gostinfo.ru     © FSBI Russian Standardization Institute, 2025