IEC 62416(2010)
Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS
Статус: Действует Дата введения в действие: 26.04.2010
Обозначение | IEC 62416(2010) |
---|---|
Заглавие на русском языке | Полупроводниковые приборы. Испытание с барьером Шоттки на транзисторах MOS |
Заглавие на английском языке | Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors |
МКС | 31.080 |
Вид стандарта | ST |
Дата опубликования | 26.04.2010 |
Язык оригинала | английский;французский |
Количество страниц оригинала | 24 |
ТК – разработчик стандарта | TC 47 |
Номер издания | 1.0 |
Статус | Действует |
Код цены | C |