DIN 50456-3-1999
Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик формовочных масс для электронных компонентов. Часть 3. Определение катионных загрязнений
Статус: Дата введения в действие: 01.08.1999
| Обозначение | DIN 50456-3-1999 |
|---|---|
| Заглавие на русском языке | Материалы для полупроводниковой технологии. Методы определения характеристик формовочных масс для электронных компонентов. Часть 3. Определение катионных загрязнений |
| Заглавие на английском языке | Testing of materials for semiconductor technology - Method for the characterisation of moulding compounds for electronic components - Part 3: Determination of cationic impurities |
| Дата опубликования | 01.08.1999 |
| МКС | 29.045 |
| Вид стандарта | ST |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN 50456-3(1998-03) |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 2 |
| Перекрестные ссылки | DIN 8120-1(1981-07)* DIN 38406-22(1988-03)* DIN 50451-1(1987-10)* DIN 50456-2(1995-04)* |
| Код цены | Preisgruppe 5 |