Каталог МЭК — публикации Международной электротехнической комиссии - IEC
найдено документов: 23624 страниц: 1182
IEC/PAS 62129(2004)
Калибровка оптических спектральных анализаторовCalibration of optical spectrum analyzers
Количество страниц: 56 Статус: Заменен
IEC/PAS 62137-3(2008)
Технология монтажа электроники. Руководство по выбору методов испытания паяных соединений на долговечность и воздействие окружающей средыElectronics assembly technology - Selection guidance of environmental and endurance test methods for solder joints
Количество страниц: 46 Статус: Заменен
IEC/PAS 62158(2000)
Квалификационный профиль изготовителей печатных платPrinted board manufacturers' qualification profile (MQP)
Количество страниц: 46 Статус: Отменен
IEC/PAS 62159(2000)
Профиль квалификации изготовителей электронных узловElectronic Assembly Manufacturers' Qualification Profile (AQP)
Количество страниц: Статус: Отменен
IEC/PAS 62160(2000)
Профиль квалификации ламинаторовLaminator Qualification Profile
Количество страниц: Статус: Отменен
IEC/PAS 62162(2000)
Метод испытания на определение порогов устойчивости к электростатическому разряду для компонентов микроэлектроники с помощью модели зарядного устройства с индуцированным полемField-induced charged-devise model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components
Количество страниц: 7 Статус: Действует
IEC/PAS 62163(2000)
Метод испытания наружным осмотромExternal visual test method
Количество страниц: 4 Статус: Заменен
IEC/PAS 62167(2000)
Прекращение выпуска продукцииProduct discontinuanse
Количество страниц: 5 Статус: Отменен
найдено документов: 23624 страниц: 1182